为了有效推动表面分析应用技术的发展，深入了解光电子能谱技术的仪器性能特点，充分发挥已购仪器在教学科研生产工作中的作用，2023年11月15-16日，赛默飞世尔科技（简称赛默飞）联合福州大学福建省高校测试中心共同举办X射线光电子能谱学术研讨会。来自各地的XPS领域专家和科研人员围绕XPS相关真空互联技术进展、应用案例和实践经验等进行了深入的探讨。

大会由赛默飞何丹宁主持，福州大学福建省高校测试中心主任陈晓晖教授致开幕辞。

首先，中科院大连化学物理研究所盛世善研究员跟大家分享XPS分析中经常遇到的问题。

接着，中山大学测试中心陈建研究员详细介绍了电催化还原反应中表面吸附调控及其原位拉曼研究，并分享了原位/准原位光电子能谱科研支撑案例。

紧接着是赛默飞应用专家孙文武分享XPS数据分析技巧。随后，赛默飞业务拓展经理张治忠仔细讲解赛默飞表面分析多技术联合表征解决方案。

最后，盛世善和陈建老师给学员颁发培训合格证书。

通过本次交流会，积极推动XPS表面分析应用技术的发展，加强同行之间交流与合作，展示XPS相关技术新成就、新进展，会议取得圆满成功。（福建省高校测试中心供稿）